국립한밭대학교 노진성 교수 연구팀이 반도체 정전척의 미세 결함을 한 장의 이미지로 빠르게 판독하는 인공지능 기술을 개발해 오픈이노베이션 챌린지에서 장려상을 수상했다. 이 기술은 적은 데이터로도 새로운 결함을 즉시 분류할 수 있어 반도체 공정 수율 향상에 기여할 것으로 기대된다. 연구팀은 2년 연속 수상하는 성과를 거두었다.