KAIST 연구팀이 배터리 성능 분석 시 발생하는 측정 오류의 원인을 규명했습니다. 표면 굴곡이 이온 이동 신호로 오인되는 현상을 발견하고, 아르곤 이온 빔을 이용해 표면을 정밀하게 가공하여 '가짜 신호'를 줄이는 기술을 개발했습니다. 이 연구는 차세대 배터리 개발에 기여할 것으로 기대됩니다.